找回密码
 立即注册

QQ登录

只需一步,快速开始

打印 上一主题 下一主题
开启左侧

[NUC] 離散的I/O如何匯總在一個變數做讀寫?

[复制链接]
跳转到指定楼层
楼主
請看圖列,C語法中是否可將pin35~pin42的I/O定義到一個變數TEST下。透過TEST變數對那些I/O做一次的讀寫。
這個目的是讓PCB layout可以方便匯流走線。
若有好方法請給些範例
謝謝


螢幕擷取畫面 2022-08-14 184634.jpg (78.08 KB, 下载次数: 416)

螢幕擷取畫面 2022-08-14 184634.jpg
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空间QQ空间 腾讯微博腾讯微博 腾讯朋友腾讯朋友
收藏收藏 顶 踩
回复

使用道具 举报

高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies |上传

本版积分规则

新唐MCU